Das TSI-Mikroskop-Objektiv wird mit TSI-LDV- und PDPA-Systemen eingesetzt, um die einfache Untersuchung von Strahlenkreuzungsmustern zu ermöglichen. Es besitzt eine große Blende, um eine schnellere Einstellung zu ermöglichen, und widersteht selbst dem stärksten TSI-Argon-Ion-Laserstrahl, ohne zu brennen (gilt nur für Sondenausgabe). Es besitzt eine einstellbare Halterung auf der Rück- und Unterseite und kann fest mit einer Lochrasterplatte verbunden werden.